Articles

Objetivo stigmator/correção de astigmatismo

Posted by admin

=================================================================================

O objetivo da abertura em si pode introduzir o astigmatismo se ele não é perfeito centrado na ótica do eixo. Por outro lado, o astigmatismo muda de local para local nas proximidades do suporte do espécime. A resolução espacial em EMs (microscópios eletrônicos) é muito sensível ao astigmatismo objetivo. Portanto, para obter a melhor resolução espacial no EMs (especialmente no TEM), é freqüentemente necessário corrigir cuidadosamente o astigmatismo na amostra.

na imagem latente do TEM, o astigmatismo objetivo é ajustado convenientemente vendo as franjas de Fresnel perto da borda de um furo pequeno sob a condição do overfocus. Existem também outras técnicas que podem ser usadas para corrigir o astigmatismo objetivo.

a figura 1965a mostra a estrutura do sistema de formação de sonda de elétrons no modo STEM em MEMS JEOL JEM-2010f.

ilustração Esquemática da sonda, formando elétrons ótica no TRONCO modo JEOL JEM-2010F Elementos

Figura 1965a. Ilustração esquemática da sonda, formando elétrons ótica no TRONCO modo JEOL JEM-2010F Liços.

a figura 1965b mostra anéis Thon com diferentes qualidades de imagem.

Thon anéis com diferentes qualidades de imagem

Figura 1965b. Thon anéis com diferentes qualidades de imagem: (A) bom; (B) anisotrópica devido a astigmatic; (C) anisotrópica devido à amostra deriva.

Related Post

Leave A Comment