=================================================================================

objektiivinen aukko itsessään voi tuoda hajataittoa, jos se ei ole täydellinen keskitetty Optinen akseli. Toisaalta hajataittoisuus vaihtelee paikasta toiseen näytteen tukitelineen läheisyydessä. Spatiaalinen resoluutio EMs: ssä (elektronimikroskoopeissa) on hyvin herkkä objektiiviselle hajataittoisuudelle. Jotta EMs: ssä (erityisesti TEM: ssä) saadaan paras spatiaalinen erottelukyky, on usein tarpeen huolellisesti korjata näytteen hajataittoisuutta.

TEM-kuvantamisessa objektiivista hajataittoa säädetään sopivasti tarkastelemalla Fresnelin reunoja lähellä pienen reiän reunaa ylikorostetussa tilassa. On myös muita tekniikoita, joita voidaan käyttää korjaamaan tavoite hajataittoa.

Kuva 1965a esittää jeol JEM-2010f Temsissä ELEKTRONILUOTAIMIA muodostavan järjestelmän rakenteen STEM-tilassa.

Kuvassa 1965b on Thonirenkaita, joilla on erilaiset kuvanlaadut.

Kuva 1965b.Thon-renkaat, joilla on erilaiset kuvanlaadut: a) Hyvä; B) astigmaattisen anisotrooppinen; C) näytteen driftauksen aiheuttama anisotrooppinen.