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Objetivo stigmator/corrección de astigmatismo

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El objetivo de la abertura puede introducir el astigmatismo si no es perfecto centrado en el eje óptico. Por otro lado, el astigmatismo cambia de un lugar a otro en las proximidades del soporte de la muestra. La resolución espacial en los microscopios electrónicos (EMs) es muy sensible al astigmatismo objetivo. Por lo tanto, para obtener la mejor resolución espacial en EMs (especialmente en TEM), con frecuencia es necesario corregir cuidadosamente el astigmatismo en la muestra.

En la imagen TEM, el astigmatismo objetivo se ajusta convenientemente al ver los bordes de Fresnel cerca del borde de un pequeño orificio en condiciones de enfoque excesivo. También hay otras técnicas que se pueden utilizar para corregir el astigmatismo objetivo.

La figura 1965a muestra la estructura del sistema de formación de sondas de electrones en modo VÁSTAGO en TEM JEOL JEM-2010F.

 Ilustración esquemática de la óptica electrónica formadora de sondas en modo VÁSTAGO en TEMs JEOL JEM-2010F

Figura 1965a. Ilustración esquemática de la óptica electrónica formadora de sondas en modo VÁSTAGO en TEMs JEOL JEM-2010F.

La figura 1965b muestra anillos Thon con diferentes calidades de imagen.

Anillos Thon con diferentes calidades de imagen

Figura 1965b. Anillos de Thon con diferentes cualidades de imagen: (A) buena; (B) anisotrópicos debido a astigmáticos; (C) anisotrópicos debido a la deriva de la muestra.

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